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典型病例 当前位置:网站首页 >> 近红外脑功能成像技术诊断注意力缺陷障碍的最新科研成果
近红外脑功能成像技术诊断注意力缺陷障碍的最新科研成果
发布者:管理员  发布时间:2020-10-31  阅读:26   

    分析基于近红外光谱成像的注意缺陷多动障碍(Attention-Deficit/Hyperactivity Disorder,ADHD)患儿的前额叶皮质功能,为ADHD的脑功能分析提供参考依据。

        方法 :选取2019年7月-2020年2月就诊于上海市儿童医院儿童保健科ADHD门诊及体检门诊的各100名儿童,由家长填写ADHD评估量表和人口学资料,临床医师进行综合访谈和体格检查,治疗师进行韦氏智力测试及基于近红外光谱的前额叶皮质功能检测。

                 伟众多动症儿童脑区域功能近红外脑功能成像


        结果:选取筛选后的有效样本共70名儿童,35名为确诊ADHD的患儿,匹配同期(年龄及性别相仿)的35名正常对照儿童。ADHD组平均年龄(8.2±1.3)岁,正常对照组平均年龄(8.9±1.0)岁,ADHD组和对照组左侧前额叶皮质氧和血红蛋白浓度统计值分别为-0.005±0.033、0.020±0.021,两组间差异具有统计学意义(t=3.781,P<0.01)。在ADHD组患儿中,左侧脑皮质激活明显低于右侧(t=2.272,P<0.05),不同性别和年龄段ADHD患儿前额叶皮质功能水平差异均无统计学意义(P>0.05),不同亚型ADHD患儿右侧前额叶皮质功能差异有统计学意义(F=7.138,P<0.01),多动冲动型患儿可能存在右侧前额叶皮质功能补偿。

                   伟众多动症儿童脑神经网络近红外脑功能成像


        结论: ADHD患儿存在左侧前额叶皮质功能受损,不同性别和年龄段ADHD患儿前额叶皮质功能差异无统计学意义。


文献来源:

基于近红外光谱的注意缺陷多动障碍患儿前额叶皮质功能研究》兰红艳、吴丹等。

《脑科学康复模式的理论研究》伟众脑科学研究中心

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